|
Title
|
افزایش حساسیت "روش اندازه گیری جابجایی کانون" برای مشخصه یابی خواص غیرخطی با استفاده از انحراف سنجی مویره
|
|
Type of Research
|
Thesis
|
|
Keywords
|
اپتیک غیرخطی ، تکنیک "اندازه گیری جابجایی کانون" ، انحراف سنجی مویره
|
|
Abstract
|
اندازه گیری دقیق مشخصه های پاسخ های غیرخطی مواد از اهمیت ویژه ای برخوردار است.تاکنون چندین روش نوری برای اندازه گیری ضریب شکست غیرخطی مواد ، بخاطر کاربردهای موثر آن در طراحی قطعات نوری و تکنولوژی لیزر ، ارائه شده است. از معروف ترین این روش ها می توان به روش جاروب-z اشاره کرد. برای فارغ آمدن به مشکلاتی که در این روش وجود دارد روش جدید "اندازه گیری جابجایی کانون" را برای سنجش پارامترهای غیرخطی یک ماده پیشنهاد می کنیم و برای جابجایی نقطه کانونی عدسی در حضور محیط های غیرخطی در یک ساختار با شدت بالا ، یک فرمول تئوری ارائه می دهیم. مقدار جابجایی کانون به پارامترهای غیرخطی نمونه مربوط می شود. در مواردی که مقدار جابجایی کانون بسیار کم باشد ، اندازه گیری مقدار آن دشوار خواهد بود. نشان داده می شود که می توان با استفاده از روش انحراف سنجی مویره ، حساسیت روش "اندازه گیری جابجایی کانون" را افزایش داد.
|
|
Researchers
|
Kazem Jamshidi-Ghaleh (Primary Advisor)
|